WGJSTD-B介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀

WGJSTD-B數(shù)字式介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀是我公司一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機(jī)作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在一個液晶屏上展示出來，采用特制介質(zhì)損耗測試裝置和單位計算可以的計算出介質(zhì)損耗及介電常數(shù)，在你操作時，再也不用去注意量程和換算單位。

更新時間：2024-05-05
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn) 地：上海寶山

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產(chǎn)品詳細(xì)介紹

詳細(xì)介紹

本儀器的測試回路可用被測元件L、主調(diào)諧電容C、回路的損耗電阻R構(gòu)成的串聯(lián)電路來等效，當(dāng)測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w₀），主調(diào)電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w₀L/R=1/w₀CR，顯然信號源頻率w₀的穩(wěn)定度和精度、主調(diào)電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質(zhì)。模擬式的信號源穩(wěn)定性差，主調(diào)電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復(fù)雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。

WGJSTD-B傳承*代WGJSTD-A數(shù)碼化、人性化設(shè)計理念，采用數(shù)字化主調(diào)電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數(shù)、DDS直接數(shù)字合成信號源三項創(chuàng)新技術(shù)，使WGJSTD-B的技術(shù)性能、使用功能大為提升,*改變了老款面板上印制的二組輔助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數(shù)清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質(zhì)量分析、品質(zhì)控制、科研生產(chǎn),也可用于高等院校的材料科學(xué)、電子信息、電子通信、等專業(yè)作科研實驗儀器。

信號源頻率范圍	10KHz-60MHzDDS數(shù)字合成	Q測量范圍	1-1000，自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比	6000 ：1	Q分辨率	4位有效數(shù)，分辨率0.1
信號源頻率精度	1×106±1個字，6位有效數(shù)	Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍	20nH-2H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH	調(diào)諧電容	主電容 30-500PF，微調(diào)電容 ±3PF
電感測量誤差	<5%	調(diào)諧電容誤差/分辨率	<1%,0.1pf
標(biāo)準(zhǔn)測試頻點	全波段任意頻率下均可測試	Q合格預(yù)置范圍	1-1000聲光提示
諧振點搜索	自動掃描	Q量程切換	自動/手動
諧振指針	LCD數(shù)碼顯示	LCD顯示參數(shù)	w₀、L、C、Q、諧振指針、波段等

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